校准涂层测厚仪以达到最高水平的测量精度至关重要。
校准调整是将量规设置为已知厚度值的过程，以确保不同基板类型、形状和表面光洁度的精度。
涂层测厚仪可以使用几种不同的方法进行校准。仪表可根据国家和国际标准或特定应用进行校准。
Elcometer 456涂层测厚仪已在工厂进行校准，但为了从测厚仪中获得最佳性能，并充分利用测厚仪的±1%精度，应使用测厚仪的内部校准程序对测厚仪进行校准，以适应特定应用。
Elcometer 456涂层测厚仪提供了一系列校准选项。
零点校准
零点校准是在光滑基板上进行校准的一种简单方法，有时也称为“单点校准”。按照屏幕上的校准说明，将探头放置在没有涂层的金属基底上，确保与表面100%接触。仪器将自动调整校准，并准备开始测量涂层厚度。
平滑校准
平滑校准是一种比单点法或零点法更精确的方法，因为仪器是使用校准箔和未涂覆的基板进行校准的。校准箔或“膜片”是在基材、表面光洁度或形状上创建涂层厚度标准的最方便方法。平滑校准是调整涂层测厚仪校准以确保最大可能精度的理想方法。
粗糙或两点校准
粗糙或两点校准是在粗糙或喷砂成型金属基板上校准仪器的理想方法，或在基板的磁性或电性能存在显著差异的基板上校准仪器的理想方法。此校准方法需要2个已知厚度的膜片–一个值应高于目标膜厚度，另一个值应低于目标膜厚度。只需按照屏幕上的说明校准涂层测厚仪。
零偏移校准
零偏移校准是一种专利校准方法，可根据ISO 19840帮助测量薄膜厚度。校准使用平滑表面技术，并对每个读数应用校正值（零偏移），以说明粗糙表面的影响；偏移值取决于初始表面轮廓，如ISO 19840所述。
自动校准
这是Elcometer 456涂层测厚仪独有的一种校准方法，旨在简化和加快每次使用相同膜片值校准其测厚仪的用户的校准过程。
预定义校准
除了标准校准方法外，Elcometer 456涂层测厚仪还有四种预定义的校准方法，它们遵循相关标准：ISO、SSPC PA2、瑞典和澳大利亚标准。这些不仅定义了要使用的校准方法，还设置了相应标准定义的数据收集方法。
