所有涂层测厚仪的校准对于实现最高水平的测量精度至关重要。基底形状、粗糙度、成分甚至厚度都会影响涂层测厚仪的精度。
带有扫描探头的Elcometer 456涂层测厚仪允许用户使用校准膜片（也称为箔）将测厚仪设置为精确的基板条件。校准膜片使用实验室设备进行精确测量，并用微米和密耳的厚度值进行标记，从而可以精确调整测厚仪。
校准其他Elcometer 456涂层测厚仪探头时，建议使用接近预期涂层厚度的膜片来校准测厚仪。
校准扫描探头时，建议在整个范围内进行校准。这是因为探头盖对测量的总厚度有影响，并且确保探头设置在扫描过程中可能遇到的整个涂层厚度范围内。
校准Elcometer 456涂层测厚仪扫描探头时，必须考虑防护磨损帽的厚度。随着探头使用时间的推移，探头盖厚度将减小。定期校准将补偿此损失，并保持涂层测厚仪的最大精度。扫描探头使用Elcometer 456涂层测厚仪的专利偏移功能，确保使用过程中的任何盖子磨损都包含在校准过程中。涂层测厚仪甚至会通知用户何时更换盖子。
校准Elcometer 456扫描探头的主要方法有两种：平滑校准用于在光滑表面上校准测厚仪，粗糙或两点校准用于粗糙表面。这两种方法都需要在从扫描探头上取下保护盖后开始校准。
平滑校准
为了校准扫描探头量程1，需要一个标称值为1500µm（60mils）的校准箔和一个无涂层的底座或零板。或者，两个校准箔的标称值可以分别为1000µm（40 mil）和500µm（20mil）以及一个无涂层基底。
量程1探头在光滑表面校准中，标称值为1000µm（40 mil）和500µm（20mil）的箔应以确保标签不接触的角度堆叠，并放置在未涂覆的基底材料样品上。按照“易于操作向导”中的步骤，对堆叠箔进行5次或更多测量，如有必要，调整仪表读数以匹配箔的准确厚度。然后对未涂覆的基材进行5次测量。然后将仪表设置为零。最后一步是安装耐磨盖，并在无涂层底座上再读取3个读数，以补偿耐磨盖的厚度。
要校准量程2的扫描探头，请遵循相同的程序，但使用标称值为4mm（160mils）的校准箔和未涂层的底座或零板。
粗糙或两点校准
粗糙、喷砂表面的校准也以类似的方式进行。将堆叠的1000µm（40mil）和500µm（20mil）箔放置在未涂层材料上，进行5次测量，并调整量规以匹配组合厚度。第二步，将50µm箔放置在表面上，进行5次测量，必要时调整量规，然后设置。与平滑校准一样，然后安装耐磨盖，并在未涂层基材上进行3次测量。
根据ISO 19480附录A，使用50µm校准箔代替无涂层的零测试板，可提高喷砂轮廓上仪表的精度。箔位于轮廓的峰值上，并将探头保持在一致的水平。这意味着量规将始终从轮廓峰值顶部测量干膜厚度，确保DFT测量准确指示这些峰值是否被充分覆盖。
