Elcometer干膜厚度测量指南--无损干膜厚度测量

涂层厚度是使用不会以任何方式损坏涂层或基材的方法测量的。无损技术包括：

磁性——磁性强度随着涂层厚度的增加而降低（仅适用于铁基）
磁感应
涡流
霍尔效应
超声波
相位
ß 反向散射
X射线荧光

磁性/类型 1

使用简单的原理，将磁铁从无涂层的铁基上拉出所需的力大于将同一磁铁从有涂层的基材上拉出所需的力；一种无损涂层测厚仪的想法诞生了。

要制作一个基本的涂层厚度测量仪，只需拿一块磁铁，连接一个弹簧(与指针)，并在刻度上记录磁铁脱离未涂层的基材时拉开的点。用许多不同已知厚度的箔片重复这些步骤（使用千分尺或类似设备测量）并记录在刻度尺上。

现在可以通过比较拉离磁铁所需的力 (F) 与用于创建刻度尺的箔厚度之间的刻度来测量未知厚度。这是所有笔式测厚仪的基础。

平端磁铁提供比点测量更大的测量面积(A)。球面端提供更小的点测量(b)，从而提高精度。

使用这种基本设计将提供最多约15%的典型精度，主要是由于弹簧的精度。改进的方法之一是消除重力对所需力测量值的影响。

在下面的第一个图中，“ F”是将磁铁从表面移除所需的力，“ f”是测量仪记录的力。在这种情况下，F = f。在第二张图中，“F”仍然是将磁铁从表面移除所需的力，“f”仍然是测量仪记录的力。“m”是测量仪的质量。现在F = f + mg。因此，尽管两种情况下的涂层厚度相同，但第一个示例中的测量仪记录的值大于第二个示例中的值。